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| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱型號(hào) | 品牌/產(chǎn)地 | 主要技術(shù)指標(biāo) | 價(jià)格(元) |
 | 涂層測(cè)厚儀-TIME2500 | 時(shí)代儀器 | 完全替代TT220 | 洽詢 |
 | 涂層測(cè)厚儀（磁性+渦流兩用）-CTG260 | 嘉儀儀器 | 配置F1或N1探頭， 可磁性/渦流自行轉(zhuǎn)換 | 洽詢 |
 | 薄膜測(cè)厚儀-Millimar 1240 | 德國馬爾Mahr | 顯示： 模擬/數(shù)字 | 洽詢 |
 | 涂層測(cè)厚儀（磁性法）-CTG220 | 嘉儀儀器 | 測(cè)量范圍:0～1250μm | 洽詢 |
 | 薄膜測(cè)厚儀-Millimar S1840 | 德國馬爾Mahr | 動(dòng)態(tài)測(cè)量：Max, Min, Max-Min, Max+Min,平均值 | 洽詢 |
 | 高性能X射線熒光測(cè)量儀-XAN 250/252 | 德國菲希爾Fischer | RoHS檢測(cè)、材料分析和鍍層厚度測(cè)量 | 洽詢 |
 | 智能涂層測(cè)厚儀-TT260+w101 | 時(shí)代儀器 | 使用環(huán)境溫度:0～40℃ | 洽詢 |
 | STODA涂層測(cè)厚儀-STD2100 | 國產(chǎn) | 測(cè)量范圍：0～1250μm | 洽詢 |
 | 臺(tái)式涂層測(cè)厚儀-MMS PC2 | 德國菲希爾Fischer | 用于涂層厚度測(cè)量和材料測(cè)試 | 洽詢 |
 | X 射線熒光測(cè)試儀-XDV -μ | 德國菲希爾Fischer | 可以對(duì)100μm或更小的結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析 | 洽詢 |
 | 涂層測(cè)厚儀-Elcometer 456 | 英國易高 | 最小基體厚度 300μm（12mils），除非有特殊的校準(zhǔn)調(diào)節(jié) | 洽詢 |
 | 高性能X射線熒光測(cè)試儀-XDV -SDD | 德國菲希爾Fischer | 可自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層和分析痕量元素 | 洽詢 |
 | X射線熒光測(cè)試儀器-XUL | 德國菲希爾Fischer | 用于電鍍行業(yè)中的鍍層厚度測(cè)量 | 洽詢 |
 | X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)-X-RAY 4000 | 德國菲希爾Fischer | 連續(xù)的在線測(cè)量和分析 | 洽詢 |
 | 手持式涂層測(cè)厚儀-PMP10 | 德國菲希爾Fischer | 測(cè)量多種基材上的，包括小型結(jié)構(gòu)和粗糙表面上的導(dǎo)電涂層的厚度 | 洽詢 |
 | X 射線熒光測(cè)試儀-XDAL | 德國菲希爾Fischer | 不適合測(cè)量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu) | 洽詢 |
 | 高性能X射線熒光測(cè)試儀-XUV 773 | 德國菲希爾Fischer | 配有真空室，適用于材料無損分析 | 洽詢 |
 | 涂層測(cè)厚儀-TT290 | 時(shí)代儀器 | 測(cè)量范圍 0-1250μm | 洽詢 |
 | 涂鍍層測(cè)厚儀-QNix4500 | 德國尼克斯 | 顯示精度 1μm; 0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm | 洽詢 |
 | 涂鍍層測(cè)厚儀-QNix4200 | 德國尼克斯 | 顯示精度 1μm ; 0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm 工作溫度 －10 － ＋60℃ | 洽詢 |
